服務(wù)熱線(xiàn)
0512-68080407
為力學(xué)實(shí)驗室儀器而生
三維云紋干涉儀是由云紋干涉光路和泰曼/格林干涉光路組合而成;將高靈敏度正交型光柵復制在試件的表面,并置于光路系統中,經(jīng)調試后可分別獲得兩個(gè)面內位移場(chǎng)(U和V)和離面位移場(chǎng)(W);激光是由單模光纖及耦合器分解和傳輸到光路系統中的;光路中置有PZT壓電晶體,通過(guò)驅動(dòng)電源控制和驅動(dòng)壓電晶體和反射鏡來(lái)實(shí)現相移技術(shù),相移技術(shù)可以使測量靈敏度提高一個(gè)量級,儀器還附有加載系統及調節座;配以高溫爐可進(jìn)行熱變形測量。
主要技術(shù)指標:
1、位移靈敏度: 面內u & v 場(chǎng): 417nm (1200 線(xiàn)/mm),離面 w場(chǎng): 266nm
2、相移靈敏度: ∽20nm/V
3、光場(chǎng)尺寸: 35×35mm
4、測試范圍: ≤20×20mm
6、測量應變范圍:10~4000微應變
7、激光器: 單縱膜,20 mw, λ=532nm
8、圖像采集: CMOS攝像頭,分辨率 1280 x 1024,USB接口
9、加載系統: 拉伸、壓縮、彎曲三種加載方式
主要配置:
1、 主機
2、 20mW半導體激光器:1個(gè)
3、 USB攝像頭(內置):1只
4、 相移器:1個(gè)
5、 光纖:3根
6、 光纖耦合器:1套
7、 1200mm×800mm自動(dòng)平衡隔振平臺:1套
8、 品牌液晶臺式電腦:1套
9、 拉伸、壓縮、彎曲三種加載方式:1套
10、軟件:1套
應用范圍:
云紋干涉法是一種非接觸測量面內位移和應變場(chǎng)的方法,具有較為廣泛的應用范圍。
該技術(shù)可用于測量復合材料的殘余應力;測量微電子封裝組件熱疲勞,熱濕耦合,熱載荷引起的變形;可用于非接觸測量航空材料在高溫狀態(tài)下的力學(xué)性能;還可以應用于材料構件內部的缺陷,裂紋的無(wú)損檢測。應用范圍非常廣泛。